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滕羽仪SEM样品制备的基本原则是什么
SEM样品制备的基本原则SEM(扫描电子显微镜)是一种广泛用于表征材料微观结构的高分辨率的显微镜。SEM样品制备的目标是提供待分析样品在SEM分析之前所需的适当准备。在SEM样品制备过程中,有一些基本...
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滕羽仪不属于扫描仪的主要性能指标
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。扫描仪是一种常见的输入设备...
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