滕羽仪聚焦离子束扫描电子显微镜操作

纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。

离子束扫描电子显微镜(Ion Beam Scanning Electron Microscope,简称IBSSEM)是一种高端的扫描电子显微镜,可以对材料进行高分辨率的三维成像。它的基本原理是利用离子束扫描被观察样品表面的电子显微镜图像,从而得到高分辨率的扫描图像。

离子束扫描电子显微镜的操作非常复杂,需要经过一系列的步骤才能完成一个样品的工作。下面将对离子束扫描电子显微镜的操作进行详细介绍。

1. 准备样品

将待观察的样品放入扫描电极中,并将其固定在扫描探针上。扫描探针可以通过夹具或手动操作进行调整。同时,确保样品表面干净、平整,并且没有杂质或污垢。

2. 准备离子束

离子束扫描电子显微镜需要使用高能离子束来扫描样品表面。在操作之前,需要准备离子束。通常使用离子枪来产生离子束。将离子枪连接到扫描电子显微镜上,并调整离子束的能量和强度,以满足所需条件。

3. 扫描

将扫描探针接触到样品表面,并启动扫描。扫描时,离子束会扫描样品表面的一小部分区域。当扫描完成后,需要将扫描探针移到下一个区域进行扫描。重复此过程,直到完成所需的工作。

4. 数据分析

扫描完成后,需要对扫描图像进行数据分析。使用图像处理软件将扫描图像转换为三维图像。通过使用三维成像软件来分析图像,可以获得有关样品表面的高分辨率信息。

5. 样品卸除

在操作结束后,需要将样品卸除。这可以通过将样品从扫描探针上轻轻地取下或使用夹具来实现。

离子束扫描电子显微镜是一种非常高端的扫描电子显微镜,可以提供高分辨率的三维成像。它的操作复杂,需要经过一系列的步骤才能完成一个样品的工作。对于那些需要进行电子显微镜研究的人来说,掌握这种仪器的使用方法是必不可少的。

专业提供fib微纳加工、二开、维修、全国可上门提供测试服务，成功率高！